Конференция E-Scrap 2010

06 Декабря 2010

29—30 сентября 2010 года в Новом Орлеане (США) эксперты ЮНИДО приняли участие в конференции-выставке, посвящённой вопросам управления электронным ломом (E-Scrap Conference). Конференция-выставка проводилась в восьмой раз и уже давно стала крупнейшим в Северной Америке и мире мероприятием, посвященным исключительно переработке электроники.

Главными темами для обсуждения на конференции были виды наилучшей природоохранной практики (best environmental practice), сертификация и аудит (новые стандарты сертификации), переработка мониторов электронно-лучевых приборов (CRT glass) и другие. Участники конференции также уделили внимание следующим вопросам: последние изменения в технологиях переработки, повторного использования, ремонта и утилизации электронного лома, последние законодательные изменения в США и Канаде, последние изменения по Директиве Европейского Союза по отходам электронного и электрического оборудования (WEEE Directive) и другие.

В конференции-выставке приняли участие более 950 выступающих и слушателей и более 90 экспонентов из 17 стран мира (ведущие производители электронного и электрического оборудования, представители фирм, занимающихся сбором, переработкой и утилизацией электронного лома, представители государственных, некоммерческих и международных организаций и другие).